Zum Inhalt springen

Rasterelektronenmikroskopie (REM)

ZEISS "AURIGA TM“

Die hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist für vielfältige Anwendungen im Bereich der Werkstoffcharakterisierung geeignet.

Sie wird aufgrund der hohen Tiefenschärfe bevorzugt zur Abbildung uneben strukturierter Oberflächen eingesetzt. Außerdem dient sie als wichtiges Werkzeug in der Qualitätssicherung und der Schadensanalytik.

Wir bieten Ihnen:

  • hochaufgelöste Abbildungen Ihrer Objekte bis in den Nanometerbereich mit exzellenter Tiefenschärfe
  • Spezialisierung auf Kunststoffe sowie andere organische und anorganische Materialien wie z. B. Zellulose oder Oxide: Aufladungskompensation, keine Strahlenschäden an Ihren Objekten, höchste Auflösung und scharfer Kontrast
  • vertrauliche, qualifizierte und schnelle Bearbeitung Ihrer Aufträge
  • unsere Beiträge zur Lösung Ihrer Materialprobleme sowie unsere kompetente Unterstützung bei der Realisierung Ihrer Projekte

Anwendungsbeispiele der Analyse

  • Oberflächentopografie und -beschichtung
  • morphologische Untersuchung von Querschnitten zur Aufklärung von Schichtstrukturen
  • Phasenverteilung in Kunststoff-Mischungen
  • Bruchflächen
  • Medienangriffe und deren Werkstoff-Verschleißerscheinungen
  • defekte Oberflächenbeschichtung, Rauigkeit, Kratzer, Risse
  • Faser-Matrix-Haftung
  • Faser-, Pigment- und Füllstoffverteilung
  • Analyse der Werkstoffhomogenität, Lunker, Einschlüsse, Sphärolithe
  • Strukturvermessung
  • Erkennen und Vermessen von Verunreinigungen
  • Untersuchungen mittels Materialkontrast
  • Verarbeitungseinfluss
  • EDX-Röntgenmikrobereichsanalyse zur Materialidentifizierung

Probeneigenschaften

  • Probendicke: max. 30 mm
  • Probendurchmesser: max. 50 mm
  • Probenbeschaffenheit: trocken, keine Ausgasungen, vakuumfest

Präparationsmethoden

  • Mikrotomschnitt
  • Kryobruch
  • Sputtern

Analysemethoden

und weitere bei unserer Tochtergesellschaft OMPG.